CATS測試機台總代理

靜態特性測試系統

  系統對應於高電壓和大電流。

半導體測試系統(CCT510NA)
[TRABSISTOR，MOS-FET，穩壓二極管 ，光敏晶體管]

  CCT510NA在DC測試儀已被用於生產線研製，它使多達三個站的測量。另外，由於從個人計算機的控制，可以是最多八個測試儀最多24台測量它可以從一台PC進行控制的。

半導體測試系統(CAT1050M)
[TRANSISTOR，MOS-FET，DIODE]

  SCAT系列是測量儀器來測試DC特性，電壓500V？1500V，提供了多種類型的，直到電流10A？50A。此外，1500V，50A以上的型號可供選擇。測量站是最多3個信道，也通過將掃描器對應於多引腳設備的測量。

半導體測試系統(CAT2050SP)
[TRANSISTOR，MOS-FET，IGBT，晶閘管，二極管]

  CAT系列是測量儀器來測試DC特性，電壓500V？1500V，提供了多種類型的，直到電流10A？50A。此外，1500V，50A以上的型號可供選擇。測量站是最多3個信道，也通過將掃描器對應於多引腳設備的測量。

半導體測試系統(CATL2010Z)
[TRANSISTOR，MOS-FET，IGBT，二極管]

  在發達系統作為根據探測器的測定裝置的一個晶片，可以測量在一個地方DC特性和L載荷試驗。連同測量程序和測量結果可以集中管理，還它配備有一個晶片圖的功能。

半導體測試系統(CHT3012ZZ)
[MOS-FET，IGBT，晶閘管，二極管]

  在DC測量測試儀功率半導體的最新模型，具有3kV的-1200A的應用能力。測量表的照片可高達200℃的溫度上升已成為加熱器階段。

波形檢查測試系統(WF3000)
[IGBT]

  測量IGBT的反向擊穿電壓波形測量和3000V的漏電流。測量頭的照片是一個36針系統具有可編程掃描儀，但是可以根據需要對應於測量頭。

4端子調節器測試系統(CCR03PE)
[電壓調節器，並聯穩壓器]

  CCR03PE為電壓調節器並聯穩壓器的測量系統，它已成為一個2平行規範。測量精度為0.05％，並且高精確度的。