系統保證的di / dt的擊穿性試驗的免疫力。
二/ D測試儀(GST610Z)
[MOS-FET,DIODE]
它捕獲的反向恢復波形和MOS-FET的破壞波形和二極管從示波器,來確定其特性確定在軟件中的di / dt。開路/短路測試,它也有提高駕駛員的檢查功能的可靠性。
二/ D測試儀(GSTM410Z)
[MOS-FET,DIODE]
它捕獲的反向恢復波形和MOS-FET的破壞波形和二極管從示波器,來確定其特性確定在軟件中的di / dt。開路/短路測試,它也有提高駕駛員的檢查功能的可靠性。
L負載測試儀(GSTMLT310Z)
[MOS-FET,DIODE]
的di / dt的測量和L負載測定聚集成一個單一的系統。為了測量單元集中於波形特性將在一個專用的測量端子測量的集合,分別。