直到從生產線上了開發和評估,以適應廣泛的應用。 我們的目標是開發出對應於任何環境的產品,其中高壓,大電流和高速。 也已經開發了可在-60至300達℃的環境的測量溫度來評價的系統。 碳化矽,氮化鎵也是新材料經歷。
半導體動態特性評價系統(SWRL1510ZZ)
[TRANSISTOR,MOS-FET,IGBT,二極管]
1500V,先後在1000A 1ms的應用程序的性能,它有足夠的功率作為功率器件的動態特性試驗。測量單元被認為是一種結構,可以測量裝置冷卻或在高溫下,以允許連接到外部腔室,並允許設備通過評估溫度特性
開關時間與柵極容量測試系統(SWQR550)
[MOS-FET,IGBT]
SWQR550是除了R稱重切換時間測量中,我們結合的柵極電容(QG)測量功能。然而,由於強調了每個測量的特性的,它不能被執行的R稱重切換和柵極電容連續測量。
切換時間測試儀(SWR330A)
[MOS-FET,IGBT]
SWR330A通過用軟件MOS-FET,R負載切換時間IGBT測量裝置,互鎖執行質量確定捕獲示波器波形。